· XRD-7000系列配备了样品水平型测角仪，能够测定超大型样品。
· 不但可进行定性/定量等基本分析，还可以应用于残留奥氏体定量、环境定量、晶格常数的精密化、结晶度的计算、晶体粒径和晶格应力的计算、晶系确定、Rietveid结构解析软件进行的晶体结构解析。通过追加附件，还可以应用于应力测定、样品加热过程的分析、薄膜样品测定等。
· 利用新开发的大型R-θ样品台，可以进行最大350mmφ样品全表面的自动应力成图测定。 
· 采用强大的多毛细管平行光束系统，可对应凹凸不同的样品的分析，扩大应用范围。