概要
独特的X光管，台式XGT - 5000系统允许高空间分辨率的X射线荧光分析-从1.2毫米到10微米。
无需任何样品制备或真空需要-样品仅仅是放置在样品室，然后在正常大气压力下分析。完全整合的软件控制样品移动，获取选择和数据分析（包括定性和定量分析，并组成图像生成）。从把样品放在样品祥中，只需几秒钟，开始数据抓取，借助直观的“point and click”选择分析位置。样品用同轴几何显象，删除视差。您绝对理由相信，您看到的正是您样品。
整套系统提供了两个X射线管，从而使用户能够简单地切换显微和宏观光束，可适用于一系列实验。这些光管的高强度的光斑传递确保了最低的数据获取时间。
单毛细管设计非常适合高强度的元素成像，甚至对于不平整样品同样有效。
通过自动采样扫描很容易获得XRFmapping，并提供样品下方第二次信号检测，能同时收集了X射线透射图像。这项技术的额外的结构信息有利于对兴趣区域的定位，或了解样本的内部结构。
特征
最高的空间分辨率
HORIBA独特的X射线光管技术提供高空间分辨率微区XRF分析，X射线光斑直径小到10微米。这种最高强度超细的光斑，可以快速无损分析微细结构。 
X射线透过像
结合XRF成像， XGT–7000可抓取透视图像。这可被用来进行内部结构分析，定性那些眼睛不可见的区域。用垂直束窄扫描完成后，得到清晰穿透图像甚至非平面样品，如圆筒形部件。
完整地分析整个样品该样品室可以容纳广泛的样本进行分析，从10 μm的微区功能的点分析，到10cmX10cm大面积分析。
整合数据采集和分析的操作软件直观的软件可以轻松地控制仪器硬件，快速采样的可视化和选择测量区域，全面的数据分析。功能包括自动峰识别，定量测量， RGB图像生成，线剖面分析。
規格XGT-5000 Type I Type II
XGT系统
高灵敏度类型(空间分解能：10μm、100μm)
标准类型(空间分解能：100μm) 可添加10μm
透射X射线检测器 (可选项) ※1
光学像
全体光学像观察系统 (可选项) (×1.5～×25)
详细光学像同轴观察系统 (×30) ※2 (×100)
从光学像中指定测定位置
通用规格
X射线管 最大50 kV、1 mA、Rh目的靶
荧光X射线检测器 高纯度Si检测器(Xerophy)
检测元素 Na～U(在试样大气中)
能量范围 0～40 keV
最大测定区域/最大试样尺寸 100 ㎜×100 ㎜ / 350 ㎜×400 ㎜×40 ㎜
OS Windows XP
软件
定性功能 自动定性、多点分析、匹配
定量功能 FPM定量(不标准、1点校正) 标准曲线定量
映像分析 指定来自透射像・荧光像的同时映像、虚假颜色、图像RGB合成、图像线分析、图像间运算、相分析(可选项)、对比度调整、透射像、荧光像、光学像的分析位置
输出 CRT显示、打印机输出、文件输出、位图输出(可选项)、印刷版面设计(可选项)
电源 AC100 V、50/60 Hz、1.3 kVA以下
装置质量 280㎏
形尺寸 2110(W)×1000(D)×1350(H) ㎜
周边机器
真空泵 、彩色打印机
MO驱动(可选项)、CD-RW驱动(可选项)
15英寸液晶监视器(可选项)、透射光照明系统(可选项)
※1 未带透射X射线检测器时，映像时也能显示透射X射线的窗口。
※2 将全体光学像观察系统添加到可选项中(×100)。
