概要 独特的X光管,台式XGT - 5000系统允许高空间分辨率的X射线荧光分析-从1.2毫米到10微米。 无需任何样品制备或真空需要-样品仅仅是放置在样品室,然后在正常大气压力下分析。完全整合的软件控制样品移动,获取选择和数据分析(包括定性和定量分析,并组成
概要
独特的X光管,台式XGT - 5000系统允许高空间分辨率的X射线荧光分析-从1.2毫米到10微米。
无需任何样品制备或真空需要-样品仅仅是放置在样品室,然后在正常大气压力下分析。完全整合的软件控制样品移动,获取选择和数据分析(包括定性和定量分析,并组成图像生成)。从把样品放在样品祥中,只需几秒钟,开始数据抓取,借助直观的“point and click”选择分析位置。样品用同轴几何显象,删除视差。您绝对理由相信,您看到的正是您样品。
整套系统提供了两个X射线管,从而使用户能够简单地切换显微和宏观光束,可适用于一系列实验。这些光管的高强度的光斑传递确保了最低的数据获取时间。
单毛细管设计非常适合高强度的元素成像,甚至对于不平整样品同样有效。
通过自动采样扫描很容易获得XRFmapping,并提供样品下方第二次信号检测,能同时收集了X射线透射图像。这项技术的额外的结构信息有利于对兴趣区域的定位,或了解样本的内部结构。
特征
最高的空间分辨率
HORIBA独特的X射线光管技术提供高空间分辨率微区XRF分析,X射线光斑直径小到10微米。这种最高强度超细的光斑,可以快速无损分析微细结构。
X射线透过像
结合XRF成像, XGT–7000可抓取透视图像。这可被用来进行内部结构分析,定性那些眼睛不可见的区域。用垂直束窄扫描完成后,得到清晰穿透图像甚至非平面样品,如圆筒形部件。