72DL PLUS测厚仪提供标准频率和高频率两种型号。高频率型号可以测量超薄材料，包括多层漆料、塑料、金属和涂层，其多层测量软件可以同时显示最多六个独立层的厚度。所有72DL PLUS型号都具有快速、准确测量厚度的功能。
·数字滤波器可实现出色的信噪比，以准确地测量噪声材料（如玻璃纤维）
·高分辨率触摸屏易于使用，可从不同视角观看
·PC Interface Application（PC机接口应用程序）集成了您的工作流程、检测管理、报警和数据分析...

DSX2000系统借助智能工具、一体化成像功能和可定制的界面，能够灵活适应您的需求。配备了PRECiV软件的DSX2000显微镜，可助力您的团队快速获得精准的结果，并捕捉到超过4K分辨率的出色图像。其直观且流畅的体验让各种技能水平的用户都能轻松、自信地使用该系统。...

OLS5500 混合型 3D 光学轮廓仪将激光扫描显微镜（LSM）、白光干涉（WLI）和焦点变化显微镜（FVM）集成于同一强大平台。
专为R&D、QA和QC团队设计，能够提供精准的表面细节、可追溯且让用户有信心的测量精
度，以及直观的用户体验，助力优化工作流程。
值得信赖的数据——由精密光学、可验证校准和智能自动化驱动——助力实验室从最初的发
现无缝迈向最终决策。...

SZ61/SZ51 SZ51和SZ61显微镜配有内置防静电保护装置，可生成具有优异景深、清晰、细致、颜色逼真的图像。其可靠、高性能的光学部件是保证精确观测结果的核心。 小型设计和卓越的光学性能并存 实现了小型机体的格里诺（Greenough）光学系统 格里诺光学系统光...

SZX10 SZX10是可再现样品自然颜色和形貌的应用领域较为广泛的高级系统体视显微镜。宽范围的变倍比（10倍），工作距离81mm，开口数0.1（采用1倍物镜时）。可提供高光学性能和舒适的操作环境。 可靠性和重复性 可以快速检查的操作部 带点击停止装置的变焦旋钮...

SZX7 SZX7体视显微镜，价格适中、操作简便、观察舒适，并配有7:1变焦率功能和内置防静电保护装置，采用了先进的伽利略光学系统，可生成优异的高画质图像。 优异的可视性和丰富的扩展性能 采用了系统扩展性能优越的伽利略光学系统 伽利略光学系统光路图 采用...

SZX16 SZX16通用显微镜是根据检测应用的需求设计的，0.7x - 11.5x，变倍比可达16.4倍，分辨率可达900 LP/mm。能够满足广泛的研究需求。 卓越光学性能带来的鲜明观察影像 16.4倍超大变焦比 0.7倍～11.5倍的变焦范围，不需要交换物镜就能一次性观察样品的整体...

STM7显微镜具有优良的多用途性，能够以亚微米精度实现对零部件和电气组件的高性能三轴测量。无论待测样品是大的还是小的，测量内容是简单的还是复杂的，测量人员是新手还是专家，奥林巴斯STM7系列就是能满足您需求、为您量身打造的测量显微镜产品。 STM7 通过...

适应范围广、搭配灵活 对应多种尺寸组合 我们推出了200 mm专用型、200 mm/150 mm兼用型和150 mm型（对应小于150 mm的晶圆）的3种型号。除此以外，您还可以根据检查模式，选用微观检查专用型号L型或微观宏观检查兼用型号LMB型。 晶圆尺寸厚度对应表 薄片检查...

让您的大尺寸样品检测流程更加顺畅 MX63和MX63L显微镜系统特别适合尺寸最大300毫米的晶圆、平板显示器、电路板、以及其他大尺寸样品的高质量检测。其采用的模块化设计可让您根据需要选择组件，获得根据应用定制的系统。 这两款符合人体工学设计且人性化的显...

AL120-12晶圆搬送机对应可使用FOUP（装载口）和FOSB，适用于低成本的后期检查。安全且符合人体工程学的设计确保了操作人员在搬送晶圆时（包括薄晶圆和变形晶圆）的效率和安全。 人机工程学设计，操作方便 可以自由设置的检查模式，在设计上考虑了后道工程中...

MX-IR / BX-IR MX-IR/BX-IR是像透过玻璃似的可透视红外线显微镜。适用于封装芯片、晶圆级CSP/SIP的非破坏检查。 非破坏观察半导体器件内部 随着不断发展的电子设备小型化、超薄化的需求，半导体器件的封装技术也高速进化。使用近红外线显微镜，可以对SiP（Sy...